半导体粉末电阻率测试仪(中西器材） 型号:XP35FZ-2010库号：M379287   
配置包含：仪器+粉末测试架
本仪器是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关国际标准设计的。电阻率测试范围为 10 -4-10 6 Ω.cm ，直接采用数字显示。仪器的可靠性和稳定性大大增强，更方便于用户，而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。

适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量，特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制。电阻率值直接数字显示由具有高加压系统，高度测量的测试台和仪器组成。

仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由高直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器，加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。本仪器具有测量高，稳定性好，重复性好，使用方便等特点，并有自校功能。

本仪器采用国际通用的电流-电压降法即四端子测量法，可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差，克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，真实、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。

本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的一种重要工具。

主要技术指标：
一、仪器
1. 测量范围：电阻率 10-4 - 10 6 Ω.cm，分辨率 10-6 Ω.cm
2. 测量电压量程：0.2mV、2mV、20mV, 200mV, 2V，分辨率 0.1μV
3. 恒流源量程：1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA、0-100mA可调。
4. 测量误差：±（0.5%读取+2字），在0.2mV时误差±（0.5%读取+5字）

二、粉末测试台
1. 试样粒度：纳米级~40目（标准筛网）
2. 试样容器：内腔Φ16.3±0.1mm
3. 试样高度：16mm~20mm，测量误差±0.1mm
4. 取样压力：8Mpa±0.05Mpa(100kg/cm±0.5kg/cm)
压力量程：0-199kg±0.5kg可调。
5. 显示方式：电阻及电阻率由3 1/2位LED数字显示0~1999。压力由3 1/2位LED数字显示0~199.9，高度由四位LED数字显示，电阻、电阻率、单位、小数点自动显示。
6. 电源：220±10%或110V±10%，由用户选择，50HZ-60HZ，功率60W。
7. 外形尺寸：仪器440mm×139mm×360mm

三、四探针测试架：
1. 四探针头：
①探针间距：1mm
②指针材料：0.5mm高速钢
③机械游移率：＜±0.3%
2. 测试架：手动压力可调，可测材料直径15~150mm，长度400mm，配合仪器可测块状电阻率范围10 -4~10 6Ω.cm，分辨率10 6Ω.cm，可测薄膜或薄层电阻（方块电阻）10 -3~10 7Ω/■，分辨率10 -5欧姆/■，可测薄片电阻率10 -4~10 6Ω.cm，分辨率10 -6Ω.cm。
性能：符合国标要求。

注：本型号可测粉末以及片状/块状样品